作為在實驗室中常用的稱量工具之一，AXB外部校準電子天平的出鏡率，尤其是在制藥行業(yè)的研發(fā)和生產(chǎn)中扮演著*的角色。

　　

　　在整個藥品實驗過程中的稱量結(jié)果十分重要，直接影響到研發(fā)成果的可靠性和產(chǎn)品的品質(zhì)，而當中關鍵的就是和精密稱定息息相關的天平“稱量誤差”的問題。

　　

　　在稱量過程中，AXB外部校準電子天平的誤差是不可能避免的，我們應該把握準確計算方法計算誤差，從而將實驗數(shù)據(jù)更精確地記實下來。一般分兩種情況：

　　

　　1、當e≠d時，示值誤差計算公式應為E=I－L(E：天平示值誤差，I：天平指示值，L天平稱盤上所加載荷)；

　　

　　2、當e=d時，示值誤差計算公式應為E=I－L(1?2)d－△L(d：電子天平實際標尺分度值

　　

　　在電子天平稱盤上為示值湊整而添加的載荷。不論哪種情況，要求所得各載荷點的誤差均小于規(guī)程中所劃定的答應誤差。

　　

　　重復性檢定：電子天平重復性檢定應在空載和加載狀態(tài)下進行，加載的載荷有兩種：一種是全載，一種是半載。要求檢定中分別對加載和空載的平衡位置進行讀數(shù)并記實，同時留意每加一次載荷均應返零一次。

　　

　　要求對同一載荷多次衡量結(jié)果之間的差值，不得超過AXB外部校準電子天平在該載荷時的誤差值。其中選取的尺度砝碼可以是級砝碼，也可以是等砝碼，但它的誤差(對于級砝碼為質(zhì)量允差，對于等砝碼為檢定精度)不得大于被檢天平在該載荷下的誤差的1/3。